SP5600 【放射線教育用キット】
特長 核物理学及び現代物理学の基礎が学べる教育用キットです。 教育用ガンマキットSP5600C 教育用ベータキットSP5600D 教育用フォトンキットSP5600E 教育用キットプレミアムバージョンSP5600 […]
メーカー名 : CAEN
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放射線検出器
1件〜30件 (全37件)
【ハイマスバイポーラTOF検出器】
特長 30ｋVの高電圧断間分離により、高加速、高ゲイン、優れたシグナルとノイズ比を達成 オプティカルカップリング：信号が高電圧より完全に分離 正負イオン検出可能、質量>100ｋDa可能 高いダイナミックレンジ：ピー […]
メーカー名 : PHOTONIS
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CeBr3検出器
概要 高分解能を要求するγ線スペクトロメトリーには、CeBr3シンチレーション結晶を使用することはNaI(Tl)の有効な代替え手段となります。 CeBr3のエネルギー分解能に関しては、約200keV以上のγ線エネルギー領 […]
メーカー名 : Scionix
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He3中性子検出器
概要 当社ではロイターストークス製He3(ヘリウム3)検出器を取り扱いしています。同検出器は、He3ガスを充填した中性子検出を目的とする比例計数管です。比例計数管は0.5インチ（1.27cm）から2.0インチ(5.08c […]
メーカー名 : Reuter-Stokes Inc.
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NaI(Tl)検出器
概要 NaI（Tl）は吸湿性で、この特性を保つため密封金属容器の中でのみ使用することが出来ます。その匹敵するもののないハイライト出力と、光電子増倍管の感度に見事に適合した発光スペクトルによって得られる良好なエネルギー分解 […]
メーカー名 : Scionix
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SPCM-AQRHシリーズ 【シングルフォトンカウンティングモジュール】
概要 Excelitas Technologies（旧PerkinElmer）社製シングルフォトンカウンティングモジュール（SPCM-AQRHシリーズ）は、特殊設計のAPDを用いて微弱光のフォトン数計測を実現しています。 […]
メーカー名 : Excelitas Technologies
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BGO検出器
概要 BGOは7.13g/cm3と極めて高密度で、自然放射能（U、Th、K）の検出に最適な大きいZ値を持ち、高エネルギー物理学アプリケーションや小型コンプトン抑止スペクトロメータに適しています。主なアプリケーションとして […]
メーカー名 : Scionix
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CsI(Tl)検出器（フォトダイオード検出器）
概要 CsI（Tl）には、非吸湿性で劈壊せず、光電子増倍管の代わりにシリコンフォトダイオードを用いてリードアウトできるという利点があります。このいわゆるフォトダイオード検出器は、コンパクトで非常に安定しており、高電圧は不 […]
メーカー名 : Scionix
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ULTRAシリーズ 【イオン注入型シリコン検出器】
概要 イオン注入型シリコン検出器で、高分解能、高効率のアルファ線・ベータ線スペクトロスコピ向けの製品です。ボロンを注入した500Åの極薄いコンタクトにより優れた分解能を発揮します。また、シリコン表面とマウンティング表面の […]
メーカー名 : ORTEC
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YAP（Ce）検出器
概要 YAP（Ce）は減衰時間がNaI（Tl）より10倍短い高密度（5.5g/cm3）酸化結晶です。高計数率（〜数MHzまで）X線スペクトロメトリ用の検出器に使用されています。この物質の非吸湿性という特性が、薄いマイラー […]
メーカー名 : Scionix
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GEMシリーズ 【同軸型検出器】
概要 計測室で最もよく使用されているのが、この“P-タイプ同軸型”検出器です。 GEMシリーズは外側接触面がリチウム拡散、内側接触面はイオン注入で製造するクローズドエンド同軸型の検出器です。HPGeの優れた品質により、最 […]
メーカー名 : ORTEC
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LaBr3(Ce)検出器
概要 LaBr3(Ce)はエネルギー分解能がNaI(Tl)の約2倍(半値幅が約1/2)（@662keV）と優れています。温度安定性も高く、減衰時間がNaI(Tl)の約1/10と短いスペックのため、高計数率にも高い性能を持 […]
メーカー名 : ORTEC
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MCP【マイクロチャネルプレート】
Long_Life_MCP セレクションガイドはこちら Advanced_Performance Detectorsセレクションガイドはこちら Time_oF_Flight Mass Spectrometer_Detec […]
メーカー名 : PHOTONIS
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RGPs【グラスチューブ・アレイ】
FieldMaster抵抗ガラスキャピラリーインレットチューブ FieldMaster抵抗ガラスは表面に抵抗層を作成するケイ酸塩、鉛を使用しており、特許取得済みです。 均一な電場を作るガラスはキャピラリインレットチューブ […]
メーカー名 : PHOTONIS
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ULTRA-ASシリーズ 【イオン注入型低バックグラウンド検出器】
概要 ULTRA-ASは超低バックグラウンド、高効率のアルファ線・ベータ線スペクトロスコピ用に開発された製品です。低バックグラウンド用の特殊な材料を使用し、宇宙線によるバックグラウンドを最小化します。ULTRAシリーズ同 […]
メーカー名 : ORTEC
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XR-100CR 【シリコンPINフォトダイオード検出器】
概要 XR-100CRは電子冷却されたSi-PINフォトダイオードをX線検出器に用い、プリアンプと冷却器を備えた高性能なシステムです。冷却器にはインプットFETと帰還回路もマウントされています。コンポーネント内部は凡そ- […]
メーカー名 : AMPTEK
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Aシリーズ 【シリコン表面障壁型部分空乏層検出器】
特長 冷却可能な厚膜シリコン検出器 優れたアルファ分解能 高分解能荷電粒子スペクトロスコピに最適 長方形の検出器や特注の構成も可能 製品仕様 有感面積：25〜450mm2 空乏層厚：1000〜2000μm 分解能（FWH […]
メーカー名 : ORTEC
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XR-100CdTe 【CdTe検出器】
概要 XR-100-CdTeは電子冷却された5×5×1mmのテルル化カドミウム（CdTe）ダイオードを検出器に用いて、プリアンプと冷却器を備えた高性能なＸ線およびガンマ線検出システムです。冷却器にはインプットFETと帰還 […]
メーカー名 : AMPTEK
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Bシリーズ 【シリコン表面障壁型全空乏層検出器】
特長 荷電粒子弁別、dE/dx測定用 放射線損傷への優れた耐久性 均一な高磁場特性により、ライズタイムディスクリミネーション・精度良いタイミング測定にも最適 製品仕様 有感面積：50〜450mm2 空乏層厚：150〜20 […]
メーカー名 : ORTEC
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CdTe検出器
概要 CdTeは比較的原子番号（Ｚ）が大きく、バンドギャップエネルギー、密度ともにGeやSiより高いマテリアルです。その特性を活かし、イメージングアプリケーションでは大容量検出器やピクセル検出器に用いることができます。特 […]
メーカー名 : Eurorad
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GMXシリーズ 【同軸型検出器】
概要 特に低エネルギー側での高分解能を要するアプリケーションに最適な、N型のスィン・ウィンド同軸型検出器です。イオン注入による極めて薄いボロンの入射窓（0.3μm）を持ち、3keV〜10MeVのエネルギー測定が可能です。 […]
メーカー名 : ORTEC
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Vortex-ME7【7素子シリコンドリフト検出器】
概要 Vortex-ME7は 7素子のシリコンドリフト検出器(SDD)です。 超高真空環境に対応し、装置をサンプルのすぐ近くに配置できますので、優れた立体角での測定が期待できます。 仕様 検出器材質：Si […]
メーカー名 : 日立ハイテクサイエンス
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Vortex 【マルチカソードＸ線検出器】
概要 Vortexは最新のCMOS製造技術から得た高純度シリコン結晶を利用したマルチカソード型Ｘ線検出器です。そのユニークな検出器構造から、従来のプレナ型検出器に比べて極めて小さな静電容量と大きな有感面積を実現しました。 […]
メーカー名 : 日立ハイテクサイエンス
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Vortex-ME4【4素子シリコンドリフト検出器】
概要 Vortex-ME4はトータル170mm2の有感面積をもつ4素子シリコンドリフト検出器(SDD)です。Vortex-ME4は優れたエネルギ分解能と高いスループットを保持し、Ｘ線スペクトロメトリシステムで優れた分析能 […]
メーカー名 : 日立ハイテクサイエンス
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Cシリーズ 【シリコン表面障壁型アニュラ検出器】
特長 バックスキャッタや、ビームターゲットの角度相関測定用 低電源作動（＋15V〜＋24V） ポリマーフロントコンタクト保護膜 製品仕様 有感面積：50〜450mm2 空乏層厚：100〜1000μm 分解能（FWHM）： […]
メーカー名 : ORTEC
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AXAS-A 【シリコンドリフト検出器システム】
概要 コンパクトなハウジングにアナログエレクトロニクスのすべてを統合した、1チャンネルのシリコンドリフト検出器（SDD）システムです。SDD、フィルタ素子、プリアンプ、シェーパー、内部電源およびアクティブ温度コントロール […]
メーカー名 : KETEK
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GLPシリーズ 【プレナ型検出器】
概要 小面積での低エネルギー光子測定用のプレナ型検出器です。3〜300keVのエネルギー範囲で優れた分解能を発揮します。PIXE、セーフガードでの測定に適しています。また優れたタイミング特性を持ち、原子核構造研究における […]
メーカー名 : ORTEC
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GWLシリーズ 【ウェル型検出器】
概要 低放射能の小型試料の測定において効率を最大にできるよう設計されたウェル型検出器です。試料は検出器中心部にあけられた穴に入れ測定します。 イオン注入法による不感層は極めて薄く、広いエネルギー範囲での測定が可能です。ま […]
メーカー名 : ORTEC
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Dシリーズ 【シリコン表面障壁型全空乏層検出器（プレナ型）】
特長 重イオンTOF測定用 厚さの均等性仕様を保証 製品仕様 有感面積：10〜450mm2 空乏層厚：15〜100μm システムノイズ：15keV〜100keV 空乏層厚10〜40μm Eマウント、 ＞40μm Tマウン […]
メーカー名 : ORTEC
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Fシリーズ 【シリコン表面障壁型部分空乏層検出器】
特長 重イオンスペクトロスコピ用 アニュラ仕様・標準以上の空乏層厚も可能 製品仕様 有感面積： 100〜900mm2 空乏層厚： ≧60μm 最大ノイズ： 18〜35keV マウント： 標準Bマウント （他の形状について […]
メーカー名 : ORTEC
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