人々の暮らしをもっと便利に、もっと豊かにする先端技術には、高度な分析・試験・評価技術が不可欠です。
厳密に分析・測定したデータが、確かな基盤技術開発や時代を先取りする商品開発を支えています。
セイコーアイ・テクノリサーチは「迅速、正確、機密厳守」をモットーに、お客様のニーズに応えます。
時計からスタートした精密機器開発の知識とノウハウを駆使し、信頼性の高い総合分析・試験センターとしてお客様に役立つ技術をご提供いたします。
分析・試験のお申込みや、ご相談を承っております。
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- 走査型イオン顕微鏡（FIB）
- 走査型プロ－ブ顕微鏡（AFM、MFMほか）
- オージェ電子分光分析装置（AES）
- X線マイクロアナライザ（EPMA）
- 蛍光Ｘ線分析装置（XRF）
- 走査型電子顕微鏡（SEM）
- 透過型電子顕微鏡（TEM）
- 断面試料作製装置（CP/クロスセクションポリッシャ）
- ウルトラミクロトーム
- 赤外分光光度計（FT-IR）
- 熱分析システム（DSC、TG/DTA、TMA）
- 原子吸光分光光度計（AA）
- 紫外可視分光光度計
- ガスクロマトグラフ（TCD、FID、FPD）
- プラズマ発光分光分析計（ICP）
- イオンクロマトグラフ（IC）
- ガスクロマトグラフ質量分析計（GCMS）
- 高速液体クロマトグラフ（HPLC）
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