分析・試験のお申込みや、ご相談を承っております。
まずはお問い合わせ下さい。

• FIB加工
• 機器分析
• 環境分析

• 走査型イオン顕微鏡（FIB）
• 走査型プロ－ブ顕微鏡（AFM、MFMほか）
• オージェ電子分光分析装置（AES）
• X線マイクロアナライザ（EPMA）
• 蛍光Ｘ線分析装置（XRF）
• 走査型電子顕微鏡（SEM）
• 透過型電子顕微鏡（TEM）
• 断面試料作製装置（CP/クロスセクションポリッシャ）
• ウルトラミクロトーム
• 赤外分光光度計（FT-IR）
• 熱分析システム（DSC、TG/DTA、TMA）
• 原子吸光分光光度計（AA）
• 紫外可視分光光度計
• ガスクロマトグラフ（TCD、FID、FPD）
• プラズマ発光分光分析計（ICP）
• イオンクロマトグラフ（IC）
• ガスクロマトグラフ質量分析計（GCMS）
• 高速液体クロマトグラフ（HPLC）