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FIB加工
- IC配線修正
- 断面加工・観察
- TEM観察試料作製
- 微細加工
機器分析
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- 断面観察
- 表面形状観察
- 表面分析・物性評価
- 形態観察・構造解析
お知らせTOPICS
- 2018/03/16
- ニュース事例紹介を掲載しました。（「DMAによる長時間変形予測」）
- 2018/02/28
- ニュース事例紹介を掲載しました。（「イオンミリング法（CP加工）の紹介」）
- 2018/02/02
- ニュース事例紹介を掲載しました。（「動的粘弾性測定によるPEのガラス転移測定」、「メッキ部品の加熱影響評価」）
- 2017/12/21
- ニュース事例紹介を掲載しました。（EBSDを用いたアルミスパッタ膜の評価）
- 2017/12/21
- ニュース年末年始休業日のお知らせ