荷電粒子検出器

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ORTECは、イオン注入や表面障壁の技術を利用してシリコン荷電粒子検出器(Silicon Charged-Particle Detector)を製造しています。

イオン注入型の場合は、フロントコンタクトがより薄くて頑丈なので、特定のアルファスペクトロスコピの用途ではエネルギー分解能が向上します。さらに、電子ノイズの低減、一部のアルファスペクトロスコピにおいて幾何学的効率の向上、60℃迄動作が可能なことや200℃でのベーキングが可能・・・等々の利点があります。

表面障壁型の利点は、厚み10μmの極めて薄い透過型検出器あるいは数mmの厚さの検出器を製造可能なことです。(※SSB検出器と呼ばれています。)

各検出器の特性はセレクションガイド(↓)を参照下さい。
また、荷電粒子検出器の寸法およびマウンティング形式はこちら を参照下さい。

1件〜10件 (全10件)

ULTRAシリーズ 【イオン注入型シリコン検出器】

概要 イオン注入型シリコン検出器で、高分解能、高効率のアルファ線・ベータ線スペクトロスコピ向けの製品です。ボロンを注入した500Åの極薄いコンタクトにより優れた分解能を発揮します。また、シリコン表面とマウンティング表面の […]

メーカー名 : ORTEC

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ULTRA-CAMシリーズ 【イオン注入型環境用検出器】

概要 連続エアモニタのフィルタに収集されたアルファ粒子の測定、大まかなスペクトロスコピ用に開発されたイオン注入型の荷電粒子検出器です。入射窓はアルミニウム蒸着され、高分子膜で覆われています。そのため、遮光性・耐湿性に優れ […]

メーカー名 : ORTEC

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Aシリーズ 【シリコン表面障壁型部分空乏層検出器】

特長 冷却可能な厚膜シリコン検出器 優れたアルファ分解能 高分解能荷電粒子スペクトロスコピに最適 長方形の検出器や特注の構成も可能 製品仕様 有感面積:25〜450mm2 空乏層厚:1000〜2000μm  分解能(FW […]

メーカー名 : ORTEC

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Bシリーズ 【シリコン表面障壁型全空乏層検出器】

特長 荷電粒子弁別、dE/dx測定用 放射線損傷への優れた耐久性 均一な高磁場特性により、ライズタイムディスクリミネーション・精度良いタイミング測定にも最適 製品仕様 有感面積:50〜450mm2 空乏層厚:150〜20 […]

メーカー名 : ORTEC

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807 【真空チェンバ】

特長 マイクロドットコネクタを使用した荷電粒子検出器での測定に ルーチンのアルファ/ベータ測定用 検出器や測定の原理のデモンストレーション、スミヤ測定 サンプル−検出器間の距離を簡単に設定・測定 ベータ・ガンマコインシデ […]

メーカー名 : ORTEC

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Cシリーズ 【シリコン表面障壁型アニュラ検出器】

特長 バックスキャッタや、ビームターゲットの角度相関測定用 低電源作動(+15V〜+24V) ポリマーフロントコンタクト保護膜 製品仕様 有感面積:50〜450mm2 空乏層厚:100〜1000μm 分解能(FWHM): […]

メーカー名 : ORTEC

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Fシリーズ 【シリコン表面障壁型部分空乏層検出器】

特長 重イオンスペクトロスコピ用 アニュラ仕様・標準以上の空乏層厚も可能 製品仕様 有感面積: 100〜900mm2 空乏層厚: ≧60μm 最大ノイズ: 18〜35keV  マウント: 標準Bマウント (他の形状につい […]

メーカー名 : ORTEC

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