荷電粒子検出器

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ORTECは、イオン注入や表面障壁の技術を利用してシリコン荷電粒子検出器(Silicon Charged-Particle Detector)を製造しています。

イオン注入型の場合は、フロントコンタクトがより薄くて頑丈なので、特定のアルファスペクトロスコピの用途ではエネルギー分解能が向上します。さらに、電子ノイズの低減、一部のアルファスペクトロスコピにおいて幾何学的効率の向上、60℃迄動作が可能なことや200℃でのベーキングが可能・・・等々の利点があります。

表面障壁型の利点は、厚み10μmの極めて薄い透過型検出器あるいは数mmの厚さの検出器を製造可能なことです。(※SSB検出器と呼ばれています。)

各検出器の特性はセレクションガイド(↓)を参照下さい。
また、荷電粒子検出器の寸法およびマウンティング形式はこちら を参照下さい。

1件〜8件 (全8件)

ULTRAシリーズ 【イオン注入型シリコン検出器】

概要 イオン注入型シリコン検出器で、高分解能、高効率のアルファ線・ベータ線スペクトロスコピ向けの製品です。ボロンを注入した500Åの極薄いコンタクトにより優れた分解能を発揮します。また、シリコン表面とマウンティング表面の […]

メーカー名 : ORTEC

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Aシリーズ 【シリコン表面障壁型部分空乏層検出器】

特長 冷却可能な厚膜シリコン検出器 優れたアルファ分解能 高分解能荷電粒子スペクトロスコピに最適 長方形の検出器や特注の構成も可能 製品仕様 有感面積:25〜450mm2 空乏層厚:1000〜2000μm 分解能(FWH […]

メーカー名 : ORTEC

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Bシリーズ 【シリコン表面障壁型全空乏層検出器】

特長 荷電粒子弁別、dE/dx測定用 放射線損傷への優れた耐久性 均一な高磁場特性により、ライズタイムディスクリミネーション・精度良いタイミング測定にも最適 製品仕様 有感面積:50〜450mm2 空乏層厚:150〜20 […]

メーカー名 : ORTEC

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Cシリーズ 【シリコン表面障壁型アニュラ検出器】

特長 バックスキャッタや、ビームターゲットの角度相関測定用 低電源作動(+15V〜+24V) ポリマーフロントコンタクト保護膜 製品仕様 有感面積:50〜450mm2 空乏層厚:100〜1000μm 分解能(FWHM): […]

メーカー名 : ORTEC

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Fシリーズ 【シリコン表面障壁型部分空乏層検出器】

特長 重イオンスペクトロスコピ用 アニュラ仕様・標準以上の空乏層厚も可能 製品仕様 有感面積: 100〜900mm2 空乏層厚: ≧60μm 最大ノイズ: 18〜35keV マウント: 標準Bマウント (他の形状について […]

メーカー名 : ORTEC

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